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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測(cè)分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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超聲電聲法Zeta電位儀可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作。
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Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-03-20

型號(hào)：Zeta-FinderZF400型

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zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2023-03-17

型號(hào)：zeta-APS

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原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測(cè)量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)； 3)寬粒徑測(cè)量范圍：從5nm到1000um； 4)自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測(cè)量時(shí)的泵送能力，沒(méi)有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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zeta-APS美國(guó)MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2023-03-17

型號(hào)：zeta-APS

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美國(guó)MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測(cè)量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)； 3)寬粒徑測(cè)量范圍：從5nm到1000um； 4)自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測(cè)量時(shí)的泵送能力，沒(méi)有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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電聲法粒度儀Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-09-08

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電聲法粒度儀Zeta電位分析儀可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒；
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美國(guó)MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀

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美國(guó)MAS超聲粒度儀電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-11

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美國(guó)MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀

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美國(guó)MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定；
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